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近日,日本又出現(xiàn)一起涉及中國(guó)留學(xué)生的托業(yè)考試(TOEIC)作弊事件。
一名 37 歲、就職于留學(xué)生支援公司的員工,因涉嫌在東京都內(nèi)的英語(yǔ)能力考試 “托業(yè)(TOEIC)” 考場(chǎng)冒充中國(guó)留學(xué)生替考,已被警方逮捕。該嫌疑人還涉嫌在兩所研究生院的入學(xué)考試中替考,此前已被逮捕并起訴,警視廳正對(duì)詳細(xì)經(jīng)過(guò)展開(kāi)調(diào)查。
被捕的是居住在新宿區(qū)、就職于東京都內(nèi)一家留學(xué)生支援公司的嫌疑人森山瑠威(37 歲)。
據(jù)警視廳介紹,嫌疑人涉嫌于去年 5 月,在東京豐島區(qū)舉行的托業(yè)考試中,在答題紙上填寫(xiě)中國(guó)留學(xué)生的姓名,冒充他人替考,涉嫌偽造有印私文書(shū)等罪名。
該嫌疑人此前已因涉嫌冒充另一名中國(guó)女性,在東洋大學(xué)研究生院等兩所研究生院的入學(xué)考試中替考,被逮捕并起訴。
去年,研究生院方面向警視廳報(bào)案稱:“入學(xué)的中國(guó)女性英語(yǔ)能力遠(yuǎn)低于入學(xué)考試時(shí)的水平,在留卡照片也與報(bào)考材料中提交的照片不一致。” 經(jīng)調(diào)查,警方發(fā)現(xiàn)嫌疑人除研究生院考試外,還涉嫌在托業(yè)考試中替考。
警方在對(duì)相關(guān)場(chǎng)所進(jìn)行搜查時(shí),查獲了偽造的在留卡、假發(fā)等物品,目前警視廳正對(duì)詳細(xì)經(jīng)過(guò)展開(kāi)調(diào)查。
面對(duì)調(diào)查,嫌疑人保持沉默。
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