打破國外壟斷！中導光電0.4μm OLED檢測設備實現國產替代！

近日，中導光電成功中標頭部面板廠商前道 Array 制程 0.4μm 高精度 AOI 檢測設備項目。該設備經客戶多輪嚴苛技術驗證，以當前平板顯示 Array 量產線領先精度標準的 0.4μm 檢測精度穩定落地，成為中導光電 OLED Array 超高精密檢測裝備國產解決方案的率先量產應用，一舉打破國外廠商在該領域的長期壟斷，攻克了平板顯示前道超高精度檢測的核心 “卡脖子” 難題。

Array 制程作為平板顯示面板制造的前道核心工序，直接決定面板線路精度、良率與顯示品質，是高分辨率面板量產的關鍵質控環節。此前0.4μm 級超高精度檢測領域更是被國外廠商形成技術封鎖，國內企業始終難以突破。本次中標是國內頭部面板廠商率先在 0.4μm 超高精度檢測環節采用國產解決方案，標志著國內平板顯示前道超精密檢測裝備正式擺脫進口依賴，實現了從 "跟跑" 到 "領跑" 的關鍵跨越。

中導光電長期專注前道 Array AOI 技術研發與工程化落地，構建自主可控的光學成像、高精度運動控制、AI 缺陷智能識別等核心技術體系，形成覆蓋亞微米至納米級的全譜系檢測能力。作為中國大陸平板顯示 Array AOI 設備市場份額領先的領軍企業，中導光電已成為京東方、TCL 華星、天馬微電子等頭部面板廠商前道 Array 檢測核心供應商，產品批量應用于多條高世代量產線。此次 0.4μm 檢測設備的量產線中標，不僅是客戶對中導光電技術實力與產品力的高度認可，更進一步拉開了與同行的技術差距，鞏固了公司在平板顯示前道檢測賽道的絕對領跑優勢，推動前道關鍵檢測裝備全面國產化進程邁入新階段。

中導光電將持續聚焦平板顯示前道 Array 制程與泛半導體高精度檢測裝備研發，不斷突破更高精度、更復雜場景的檢測技術瓶頸，以領先的 Array 檢測方案助力全球顯示產業前道制程升級與產業鏈自主可控，為高端顯示制造提供更可靠的 “中國檢測支撐”。

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