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PART1
研討會基本信息
NI測試測量技術研討會再次起航,以AI+測試為主題,走遍全國多個城市,與全國各地朋友相聚,共同探討AI+測試的落地,共贏智能測試的未來。
活動時間
2026年4月16日(星期四)
14:00-17:30(12:30開始簽到)
活動地點
北京新云南皇冠假日酒店
(地址:北京市朝陽區東北三環七圣中街12號云南大廈)
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碼上報名
NI測試測量技術研討會北京站
PART2
為什么參會?
聚焦“測試 + AI”前沿趨勢,探討 AI 如何真正賦能測試開發流程
深度解析 NI Nigel? AI如何提升 LabVIEW 與 TestStand 的工作效率
分享 PXI 平臺自動化測試方案,加速系統級測試構建
多個專題覆蓋光電、高速 ADDA 等關鍵測試方向
前沿射頻應用方案及案例
現場 Demo 參觀與互動交流,直觀了解方案應用場景
PART3
誰適合參加?
測試測量工程師、研發工程師
工程團隊負責人,技術總監
院校及研究所研究人員
LabVIEW愛好者,開發者
PART4
日程安排
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演講摘要,快速get演講精華▼
AI+測試,NI Nigel? AI提升測試工作效率
在 AI 推動測試與測量邁向智能化的趨勢下,NI 推出 Nigel? AI,并已集成于最新 LabVIEW 與 TestStand。演講講圍繞NI在AI測試上的進展,展示如何幫助工程師提升效率、降低成本、聚焦高價值創新,加速產品上市并提升測試質量。
借助PXI與NI LabVIEW+ 套件加速電子產品自動化測試
在電子產品測試日益復雜、節奏不斷加快的背景下,傳統測試方式已難以滿足效率與質量要求。本次演講將聚焦 NI PXI 平臺與軟件工具鏈,系統解析如何從交互式測量快速演進到自動化、并行測試,通過真實案例與演示,展示如何顯著縮短測試時間、提升測試效率,加速產品驗證與量產落地。
光電子應用測試方法
在算力與數據中心網絡速率邁向 400G、800G 乃至 1.6T 的背景下,光電子技術正成為突破電互連瓶頸的關鍵。本次演講聚焦高性能計算與數據中心的真實應用需求,系統介紹光模塊、硅光與共封裝光學的發展趨勢,并深入解析基于 PXI 平臺的有源光電子與光電混合測試方案。通過豐富的架構示例與測試場景,展示 NI 如何以高密度、高精度、可擴展的測試能力,助力客戶從實驗室到產線,高效應對新一代光電子器件的測試挑戰。
高速ADC(JESD204B & JESD204C) 測試方法
本次演講聚焦高速ADC測試的最新趨勢,從JESD204B的發展背景切入,系統講解其在高速、高集成度ADC測試中的價值,并進一步延展到JESD204C的測試方案與演示。內容涵蓋測試架構、關鍵硬件平臺、時鐘與同步、軟件與自動化測試實現,結合真實測試結果,展示一套高性能、易擴展的ADC測試解決方案,幫助客戶加速芯片驗證與量產落地。
前沿無線通信射頻測試方案和案例
本次演講將介紹NI從射頻研究到量產應用的最新測試方案,以應對高頻、高帶寬、高階調制等帶來的挑戰。內容涵蓋新型矢量信號收發儀PXIe-5842和PXIe-5860,新款矢量網絡分析儀PXIe-5633的卓越射頻性能,結合強大的NI射頻測試應用軟件RFmx,能夠滿足各種最新無線通信標準產品的性能驗證與測試,另外會介紹針對射頻原型研究的全新產品NI Ettus USRP X420。
PART5
實機展示
NI Nigel? AI體驗
通過配置快速完成PXI自動化測試任(InstrumentStudio?軟件展示)
快速完成傳感器配置與數據記錄(FlexLogger?軟件展示)
大數據量射頻信號高速錄制回放系統
高速ADC測試系統
光電子應用測試方案
通信數據高速流盤系統(X410+PXIe-7903)
半實物模擬仿真飛控測試平臺
碼上報名
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