NI測(cè)試測(cè)量技術(shù)研討會(huì)再次起航，以AI+測(cè)試為主題，走遍全國(guó)多個(gè)城市，與全國(guó)各地朋友相聚，共同探討AI+測(cè)試的落地，共贏智能測(cè)試的未來(lái)。
3月18日西安站議題包括：硅后驗(yàn)證ADC|PMC|MCU案例實(shí)踐、AI+LabVIEW、數(shù)據(jù)采集DAQ測(cè)試等
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極目新聞 2026-03-23 20:19:53
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